在偏光顯微鏡錐光下的觀察介紹
發(fā)布人：shpuda發(fā)布時(shí)間：2014/2/25
前而已經(jīng)講過，在單偏光顯微鏡和正交顯微鏡下可以觀察到非均質(zhì)體礦物的好多內(nèi)容，例如晶體的形狀，貝克線，突起，糙面，多色性，解理，消光現(xiàn)象，干涉色，延性符號(hào)和雙品等等。但仍有一系列光性沒有測定，如晶體的軸性－軸晶或二軸晶，光性符號(hào)—正光性或負(fù)光性，光軸角等。這些性質(zhì)在錐光鏡下可以解決。
一、錐光的產(chǎn)生
當(dāng)用錐光時(shí)，即將載物臺(tái)下的聚光鏡加上，使由下偏光顯微鏡上來的平行偏光經(jīng)過聚光鏡后，形成向中央會(huì)聚的錐形光，即為錐光。
此錐光交于焦點(diǎn)，又從焦點(diǎn)向四方散射，除中央一條光線為垂直不變外，其余的是傾斜散射，其傾斜角度越近，凸透鏡邊部愈大，但光線無論如何傾斜，其光波振擺方向仍是平行下偏光顯微鏡的振擺方向，并且是偏光。
二、一軸晶干涉圖
在上面討論中要用錐光時(shí)，是在正交偏光的情況下加人聚光鏡。將接物鏡換成高倍數(shù)的(60 x或45 x)，然后加上勃氏透鏡，這樣可見到一種特殊的圖案，這種圖案稱為干涉圖。
均質(zhì)體礦物，對(duì)任何方向的入射光線在正交偏光下永久消光，因此，就不產(chǎn)生干涉圖。
一軸晶與二軸晶各有不同特點(diǎn)的干涉圖，且切片方向不同，干涉圖形也不同，因此，可用干涉圖來區(qū)別軸性，確定光率體方位及其他光學(xué)常數(shù)。
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